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  • KEW3125A克列茨kyoritsu共立數字絕緣高壓搖表兆歐表
    KEW3125A克列茨kyoritsu共立數字絕緣高壓搖表兆歐表

    克列茨kyoritsu共立數字絕緣高壓搖表兆歐表 ? 絕緣電阻測試最大可達1TΩ ? 短路電流可達1.5mA ? 測試電壓范圍為250V-5000V ? PI和DAR的診斷功能 ? 采用最新設計的鱷魚夾 ? 配備了堅固的便攜箱 ? 濾波功能可減少噪音干擾而有利于穩定測試 ? 可顯示條形圖的大顯示屏具有背光功能 ? 通電回路警告功能 ? 設計符合國際安全規格 IEC 61010-1 CAT IV 3

    時間:2024-11-29型號:KEW3125A
  • GL220midi LOGGER GL220數字記錄儀
    GL220midi LOGGER GL220數字記錄儀

    midi LOGGER GL220采用小型、可放心測定的全頻道絕緣輸入方式??蛇M行電壓/溫度/濕度/脈沖/邏輯的多元輸入。 根據客戶要求提供多種高速電壓測定,可測定范圍擴展至10ms取樣(電壓范圍1ch輸入時)。 此外,內置存儲器中搭載2GB大容量閃存,無需使用外部存儲媒體即可實現長時間的數據収錄。 GL220提高了可對應多樣化測量用途的功能性與操作性,從研究開發到生產線現場,可1人1臺進行使

    時間:2024-11-27型號:GL220
  • ABS2612M美國ACURISE公司ABS2612M蓄電池內阻測試儀
    ABS2612M美國ACURISE公司ABS2612M蓄電池內阻測試儀

    &采用WINDOWS操作系統,操作更方便。 &智能化、數字化、全中文操作菜單、準確測量、操作簡便;  &重量輕,手持設計,單人操作,全程自動測量; &大容量存儲,歷史數據自動匯集,隨時查詢; &測試夾(棒)可選,適應各種電池檢測 &4.3英寸LCD顯示,中文界面,觸屏操作,使用簡便; &直流大電流測試,抗干擾,測試更準確; &USB接口數據拷貝、INTERNET接口遠程系統升級

    時間:2024-11-27型號:ABS2612M
  • SDY-5SDY-5型雙電測四探針測試儀
    SDY-5SDY-5型雙電測四探針測試儀

    SDY-5型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙位組合測量技術,利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,從而提高了測量結果的準確度

    時間:2024-11-27型號:SDY-5
  • RTS-5RTS-5型雙電測四探針測試儀
    RTS-5RTS-5型雙電測四探針測試儀

    RTS-5型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新技術,將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換,在計算機控制下進行兩次電測量,能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響。

    時間:2024-11-27型號:RTS-5
  • RTS-9RTS-9型雙電測四探針測試儀
    RTS-9RTS-9型雙電測四探針測試儀

    RTS-9型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新技術,將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換,在計算機控制下進行兩次電測量,能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響。

    時間:2024-11-27型號:RTS-9
  • RTS-3RTS-3型手持式四探針測試儀
    RTS-3RTS-3型手持式四探針測試儀

    RTS-3型手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的,于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。

    時間:2024-11-27型號:RTS-3
  • RTS-2/RTS-2ARTS-2/RTS-2A型便攜式四探針測試儀
    RTS-2/RTS-2ARTS-2/RTS-2A型便攜式四探針測試儀

    RTS-2/RTS-2A型便攜式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的,于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。

    時間:2024-11-27型號:RTS-2/RTS-2A
  • SDY-4SDY-4型四探針測試儀
    SDY-4SDY-4型四探針測試儀

    SDY-4型四探針測試儀是根據單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國A.S.T.M標準設計的半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)測試儀器.

    時間:2024-11-27型號:SDY-4
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